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              美國keithley吉時利儀器華南代理商——廣州美達克公司,代理銷售數字源表、數字多用表、皮安表、電池模擬器、納伏表、精密電源等吉時利產品。
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              KEITHLEY吉時利4200-SCS型半導體特征分析系統
              型 號:KEITHLEY吉時利4200-SCS型半導體特征分析系統 品 牌:美國吉時利 名 稱:

              KEITHLEY吉時利4200-SCS型半導體特征分析系統

              參 數:容易使用的吉時利4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析,具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統集成能力,包括完整的嵌入式PC機,WindowsNT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程,這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。 市場價:0 保 修:1年(以說明書為準)
              產品介紹

              keithley吉時利4200-SCS的I-V特性測量:

              keithley吉時利4200-SCS系統實現I-V測量功能的核心單元是SMU (源測量單元) ;

              SMU集4種功能于- -體:電壓源、電壓表、電流源、電流表;

              可以向器件提供驅動電壓同時測量電流,也可以向器件提供電流并測量電壓;

              圖形化的KITE軟件可以輕松地設定測試條件,設定電壓或電流,被測點數,保護電壓或電流值,完成各種I-V參數測試;

              SM的數量與被測器件的端口數有關,原則上有幾個端口,就要配幾個SMU。


              一般來說,keithley吉時利4200-SCS系統的最基本的組成部分就是I-V部分,I-V測 試是最基本,最核心的測試內容,C-V測試,乃至脈沖I-V的測試都是其擴展部分,根據用戶的經費情況和研究的器件類型。來對這個系統進行配置。


              吉時利4200-SCS型半導體特征分析系統主要特點及優點:

              ●直觀的、點擊式Windows操作環境

              ●獨特的遠端前置放大器,將SMU的分辨率擴展至0.1fA

              ●用于高級半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能

              ●集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡

              ●內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲

              ●獨特的瀏覽器風格的軟件界面,根據器件的類型來安排測試,可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能

              ●內置了Stress/Measure,循環和數據分析功能,通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試,包括5個JEDEC規范的樣品測試

              ●支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈沖發生器等多種外圍設備

              ●硬件由keithley交互式測試環境(KITE)來控制,用戶測試模塊功能,可用于外接儀表控制與測試平臺集成,是KITE功能的擴充

              ●包括驅動軟件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺

              ●支持先進的半導體模型參數提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso


              keithley吉時利4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析,具有高精度和亞fA級的分辨率。keithley吉時利4200-SCS提供了最先進的系統集成能力,包括完整的嵌入式PC機,WindowsNT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程,這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。


              KEITHLEY吉時利4200-SCS 相關應用:

              ●半導體器件

              ●片上參數測試

              ●晶圓級可靠性

              ●封裝器件的特性分析

              ●使用Model4200-SCS控制外部LCR表進行C-V、I-V特性分析

              ●高K柵電荷俘獲

              ●易受自加熱效應影響的器件和材料的等溫測試

              ●電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態密度

              ●電阻式或電容式MEMS驅動特性分析

              ●光電器件

              ●半導體激光二極管DC/CW特性分析

              ●收發模塊DC/CW特性分析

              ●PIN和APD特性分析

              ●科技開發

              ·碳納米管特性分析

              ●材料研究

              ●電化學


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